測(cè)試平臺(tái)
目標(biāo)：指導(dǎo)測(cè)試中心完善測(cè)試環(huán)境與服務(wù)流程，為設(shè)計(jì)企業(yè)產(chǎn)品驗(yàn)證與技術(shù)分析提供測(cè)試分析服務(wù) 。
主要工作：
1)提供工程測(cè)試分析與驗(yàn)證、中小批量測(cè)試；
2)提供大規(guī)模和超大規(guī)模 IC 測(cè)試服務(wù)；
3)提供測(cè)試硬件及控制系統(tǒng)的軟件、硬件開發(fā)；
4)提供壓焊(Bonding)、軟包封(Cob 封裝)、表面裝貼(回流焊)等服務(wù)。
西安微電子測(cè)試服務(wù)中心簡(jiǎn)介
西安微電子檢測(cè)中心成立于2000年12月，專業(yè)從事集成電路的測(cè)試、篩選、測(cè)試軟硬件開發(fā)及相關(guān)技術(shù)配套服務(wù)，是西安市科技局認(rèn)定的高新技術(shù)企業(yè)，并于2003年9月通過GB/T19001-2000(idtISO9001:2000)標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量體系認(rèn)證，同時(shí)，國防科工委可靠性研究中心元器件工程分部也設(shè)在該中心。
中心擁有一批多年從事集成電路測(cè)試的專業(yè)技術(shù)隊(duì)伍和先進(jìn)的測(cè)試、篩選設(shè)備，有雄厚的軟、硬件開發(fā)力量。同時(shí)，在產(chǎn)品檢測(cè)和篩選方面按照軍用產(chǎn)品的要求，建立了一整套嚴(yán)格的管理制度和工藝流程，已成為多家集成電路設(shè)計(jì)和國防企業(yè)的電路測(cè)試、分析、篩選以及軟、硬件開發(fā)的合作伙伴。
技術(shù)特長主要包括集成電路測(cè)試軟件開發(fā)技術(shù)、集成電路測(cè)試設(shè)備的軟硬件集成技術(shù)、汽車ECU控制技術(shù)等。
以讓用戶滿意，建立完善的質(zhì)量管理體系，確保公司在研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的全優(yōu)服務(wù)為質(zhì)量方針和目標(biāo)。
基 本 情 況
為入住的設(shè)計(jì)企業(yè)提供產(chǎn)品的測(cè)試與分析服務(wù)，開發(fā)硬件測(cè)試分析系統(tǒng)，提供完整的集成電路測(cè)試解決方案，主要包括：晶圓測(cè)試與分析服務(wù)、電路測(cè)試與分析服務(wù)，各種成品電路的高低溫實(shí)驗(yàn)、老化、檢漏、篩選等，以及測(cè)試軟件的開發(fā)。測(cè)試平臺(tái)的依托實(shí)體是西安西谷微電子有限責(zé)任公司，成立于2000年12月，是國防科工委可靠性研究中心器件工程分部，是國家集成電路西安產(chǎn)業(yè)化基地的唯一指定單位。將以先進(jìn)的設(shè)備和尖端的技術(shù)、完備快捷的測(cè)試方案，嚴(yán)格控制測(cè)試流程，縮短測(cè)試開發(fā)和制作周期，為廣大客戶提供IC測(cè)試服務(wù)。
服 務(wù) 能 力
集成電路測(cè)試程序編制、相關(guān)硬件系統(tǒng)開發(fā)、測(cè)試分析系統(tǒng)開發(fā)，擁有5000種以上經(jīng)過多次使用和驗(yàn)證過的常用集成電路的測(cè)試分析程序，以及一批先進(jìn)的集成電路中測(cè)、成測(cè)、篩選、老化、檢漏等專用測(cè)試分析設(shè)備，同時(shí)，擁有多年從事軍用集成電路產(chǎn)品的測(cè)試分析經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)能力。
測(cè)試電路類型：100MHZ/256PIN以內(nèi)各類數(shù)字集成電路、模擬集成電路、數(shù)?；旌霞呻娐返龋篋SP、MCU、AD/DA、各類IC卡電路、存儲(chǔ)器電路、通訊類電路、驅(qū)動(dòng)、保護(hù)電路等。
主 要 設(shè) 備
研 制 開 發(fā)
● 控制系統(tǒng)開發(fā)(成功案例)
A． 導(dǎo)彈飛行數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)（黑匣子）
B． 無人駕駛機(jī)載播撒控制系統(tǒng)
C． 一汽集團(tuán)汽車柴油電控系統(tǒng)（ECU）
D． 一汽集團(tuán)汽車自動(dòng)變速箱控制系統(tǒng)（ECU）
E． 一汽集團(tuán)汽車緩速器(制動(dòng))控制系統(tǒng)（ECU）
F． DC—DC電源測(cè)試系統(tǒng)
● 分立元器件測(cè)試系統(tǒng)
A. 用于測(cè)試功率二極管，三級(jí)管，VMOS管，IGBT等高壓大電流器件。
B. 采用單脈沖瞬間測(cè)試，測(cè)試過程安全可靠，器件不發(fā)熱體積小、編程簡(jiǎn)潔、測(cè)試速度快。
C. 測(cè)試電壓最高可達(dá)2000V.
D. 測(cè)試電流最大可達(dá)150A（20ms）。
E. 檢測(cè)單元分辨率0.1%。
F. 控制單元分辨率0.5%。
● 可擴(kuò)展數(shù)?；旌蠝y(cè)試系統(tǒng)
● 大規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)
A. 基本覆蓋常見的大規(guī)模數(shù)字集成電路,具備擴(kuò)展的靈活性。
B. 測(cè)試速率最低可到40MHZ,最高可到100KHZ。
C. 測(cè)試引腳（PIN）可按128PIN,256PIN,512PIN靈活配置。
D. 可施加測(cè)試電壓0V到5.5V，可施加測(cè)試電流1uA到200mA。
E. 電壓施加精度50mV,電流施加精度100nA。
F. 電壓檢測(cè)精度50mV,電流檢測(cè)精度50nA。
G. 具備各種被測(cè)器件和設(shè)備本身的可編程保護(hù)功能。
● j750測(cè)試盒
A. 在對(duì)于集成電路成品測(cè)試時(shí)，可以使測(cè)試人員脫離開J750測(cè)試系統(tǒng)顯示器而獨(dú)立測(cè)試。
B. 對(duì)于失效、合格器件的指示更為直觀，從而可以提高測(cè)試效率。
C. 循環(huán)測(cè)試功能可以更方便、更快捷的驗(yàn)證測(cè)試程序的可靠性。
D. 非工程師模式限制了測(cè)試過程中測(cè)試程序被誤改動(dòng)。
E. 工程師模式程序以只讀方式打開可改動(dòng)但無法存盤。
F. 本系統(tǒng)運(yùn)行可靠，不會(huì)對(duì)J750測(cè)試系統(tǒng)本身造成任何影響。
聯(lián)系方式：
聯(lián)系人：劉穎 電話： 029-88328230-8201 電子郵件： liuying@xaic.com.cn
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